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電子部品検査の支援ARシステム

  この章では、AR技術を用いた工業作業支援環境について考察していく。一言に工業的作 業と言っても種々多様な作業が存在するため、そこで本論文では、実世界上での作業を 電子基板の調整、検査に限定することによって、実用的な作業支援環境を実現する。以 下に本システムの目的と構成について説明する。





Yoshihiro Ban (yosihi-b@is.aist-nara.ac.jp)
1998年 9月 8日(火曜日) 15時00分